+39 0277790304 fast@fast.mi.it

GdS Microscopia elettronica applicata alla failure analysis

Il microscopio elettronico a scansione è ormai molto diffuso e sempre più alla portata dei tecnici che si occupano di prove sui materiali.
Il suo successo è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.
La Giornata di Studio, alla sua seconda edizione, mira a condividere e diffondere l’esperienza e la conoscenza delle applicazioni della tecnica SEM in ambito metallurgico e in particolare alla failure analysis, per permettere agli operatori un utilizzo consapevole e ragionato di questo strumento.
La tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis e viene utilizzata come base di partenza per la pianificazione di ulteriori indagini di tipo chimico fisico.
La Giornata di Studio, pianificata dopo il Corso SEM proposto da AIM presso il CNR, è indirizzata a tutti coloro abbiano già acquisito le nozioni di base della microscopia elettronica a scansione e siano interessati ad approfondire le applicazioni pratiche.

Programma e iscrizioni

 

Data

23 Set 2022

Ora

08:00 - 13:00

Luogo

Padova