BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
METHOD:PUBLISH
CALSCALE:GREGORIAN
PRODID:-//WordPress - MECv6.4.2//EN
X-ORIGINAL-URL:https://fast.mi.it/
X-WR-CALNAME:FAST
X-WR-CALDESC:...
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
X-MS-OLK-FORCEINSPECTOROPEN:TRUE
BEGIN:VEVENT
CLASS:PUBLIC
DTSTART;TZID=Europe/Rome:20220923T080000
DTEND;TZID=Europe/Rome:20220923T130000
DTSTAMP:20220714T111200
UID:MEC-a95c40505b26d14572fa13eb4f2e7fe0@fast.mi.it
CREATED:20220714
LAST-MODIFIED:20220714
PRIORITY:5
TRANSP:OPAQUE
SUMMARY:GdS Microscopia elettronica applicata alla failure analysis
DESCRIPTION:Il microscopio elettronico a scansione è ormai molto diffuso e sempre più alla portata dei tecnici che si occupano di prove sui materiali.\nIl suo successo è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.\nLa Giornata di Studio, alla sua seconda edizione, mira a condividere e diffondere l’esperienza e la conoscenza delle applicazioni della tecnica SEM in ambito metallurgico e in particolare alla failure analysis, per permettere agli operatori un utilizzo consapevole e ragionato di questo strumento.\nLa tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis e viene utilizzata come base di partenza per la pianificazione di ulteriori indagini di tipo chimico fisico.\nLa Giornata di Studio, pianificata dopo il Corso SEM proposto da AIM presso il CNR, è indirizzata a tutti coloro abbiano già acquisito le nozioni di base della microscopia elettronica a scansione e siano interessati ad approfondire le applicazioni pratiche.\n\nProgramma e iscrizioni\n \n
URL:https://fast.mi.it/events/gds-microscopia-elettronica-applicata-alla-failure-analysis/
CATEGORIES:Eventi delle Associate
LOCATION:Padova
ATTACH;FMTTYPE=image/png:https://fast.mi.it/wp-content/uploads/2020/06/aim-e1645701509654.png
END:VEVENT
END:VCALENDAR